半導體晶圓玻璃噴墨打點不良標記 替代傳統(tǒng)探針打點
藍茵高精度晶圓打點噴墨系統(tǒng)解決了研發(fā)測試階段的手動不良品涂黑標記方式不再適用于量產(chǎn)后的生產(chǎn)需求，以及大多數(shù)設(shè)備無法做到的超精細標記的難題，還確保了在晶圓產(chǎn)品上自動高效識別不良品，高精度、高可靠性的涂黑標記的無縫銜接。
晶圓不良標記噴墨成品圖
藍茵高精度晶圓打點噴墨系統(tǒng)解決了研發(fā)測試階段的手動不良品涂黑標記方式不再適用于量產(chǎn)后的生產(chǎn)需求，以及大多數(shù)設(shè)備無法做到的超精細標記的難題，還確保了在晶圓產(chǎn)品上自動高效識別不良品，高精度、高可靠性的涂黑標記的無縫銜接。
晶圓不良標記噴墨成品圖
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